jesd47
芯片可靠性测试 - JESD 样本量 选择 可靠性 45 77样本量 - 百 ...
参考文件：JESD 样本量 选择 可靠性 45 77样本量。非气密性封装的取样数定义在JESD47文件中，用于消费级和工业级的考核。取样数N根据90%置信度的卡方分布、批允许不良率...
规范JESD47H中的LTPD是什么
Lot Tolerance Percent Defective 批内允许次品率
为什么车机系统都在强调8155芯片?还有比它好的吗...
所以搭载了8155芯片的厂家愿意吹一下8155，言外之意就是告诉消费者，我们车机系统采用了最先进的芯片，不用担心卡顿。
为什么车规级芯片比一般的消费级芯片规格要求高?
AEC-Q100 系列认证一般至少需要 1-2 年的时间，而 ISO26262 的认证难度更高，周期更长。在考虑到芯片上车后还需要认证的时间，整体上车规级...
JEDEC推出NAND闪存接口互操作性标准JESD230G - ZOL问答
科龙冰箱 Bcj-230 w/hc 除霜感温头的阻值 74 浏览 5 回答 EPSON什么型号彩色打印机好用?除230 、P50外 274 浏览 5 回答 我的EPSON PHOTOSHOP230老卡纸,是怎么回事? 9...
芯片可靠性测试 - HTOL
技术基础 HTOL测试的基石包括JEP122和JESD47，它们提供了关于电路失效机制和模型的深入理解。这些标准为我们设计和执行测试设备提供了理论基础，确保设备在极限条件下仍能稳定...
flash可靠性测试
针对闪存（Flash）常见的失效问题，确保其可靠性，主要关注数据保持能力（Data Retention）与耐久性测试（Endurance）两大关键指标。参考行业标准JESD47I与JESD22-117E。耐久...
vitis 调试出现 Cannot Suspend: TCF error report...
同样遇到这样子的问题，有处理方法嘛
可靠性及失效分析基础知识——什么是柯肯达尔效应(Kirkendal...
JEDEC标准，如JEP122H和JESD47系列，为半导体设备的失效机制提供了指导。柯肯达尔效应的核心是两种不同原子尺寸的置换型溶质在扩散过程中产生的差异。例如，碳在铁中的扩散...
晶圆代工厂的可靠性部门简介
这些测试通常遵循JESD47标准执行。工艺可靠性部门的执行流程包括设计特定的测试结构（testkey）并进行工艺可靠性评估与认证。在MPW TO阶段，部门需介入设计相关的GDS布局，进行...